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薄膜檢測論壇 產官學齊聚

中央社/ 2013.09.10 00:00
(中央社記者林孟汝台北10日電)經濟部標準檢驗局今天舉辦「奈米薄膜檢測標準技術論壇」,邀請產官學界各領域專家,共同探討薄膜材料量測標準與檢測技術相關議題。

近20年來奈米科技獨領風騷,可說是21世紀重要科技之一,其中的薄膜技術與薄膜材料發展迅速,應用於光電、綠能、通訊、機械等高新科技產業,成為重要關鍵技術。

標檢局表示,在這些技術、產業的背後,都需要完善的檢測與計量標準系統支援,換句話說,薄膜量測標準與技術是決定產品品質與附加價值的要素。

與會的專家學者分別討論「薄膜破裂韌性的重要性與量測、建立先進材料薄膜厚度量測標準並與國際接軌」、「薄膜特性量測標準化與精準化提升顯示器顯示品位與競爭力」、「多孔性材料薄膜厚度量測技術」等議題。

標檢局指出,有鑒於世界各國大力投入薄膜科技及相關量測技術研發,在奈米國家型計畫支持下,標準局將持續、積極建置相關薄膜量測參數標準系統,建立完善量測追溯鏈,推進新量測技術研發,並期望凝聚產、官、學、研的共識及力量,多管齊下,建立薄膜相關檢測能力。

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