(中央社訊息服務20230713 14:01:55)-功能進一步提升，觀測和分析均可由儀器自動完成，有助於提高效率- 東京--(美國商業資訊)-- JEOL Ltd. (TOKYO:6951)（總裁兼執行長：Izumi Oi）宣布將於2023年7月23日發布掃描電子顯微鏡JSM-IT710HR/JSM-IT210。
本新聞稿包含多媒體資訊。完整新聞稿請見此： https://www.businesswire.com/news/home/20230709022460/zh-HK/ 掃描電子顯微鏡廣泛用於從基礎研究、生產線、品質保證到研發的各個階段，其應用領域包括金屬、半導體、電池、生物科技和聚合物等。使用者越來越希望掃描電子顯微鏡能夠更方便地幫助他們確認成分資訊，而無需關心觀測和分析過程。
JSM-IT710HR改進了電子槍的穩定性，JSM-IT210則採用了5軸馬達控制的樣品台。兩款型號均提升了用於觀測和分析的自動測量功能，從而顯著提高了掃描電子顯微鏡(SEM)的綜合能力。這兩款儀器將滿足近年來市場對自動測量的需求，有助於提高日常工作的效率。
主要功能 1. Simple SEM功能可自動取得SEM影像並進行EDS分析 利用Simple SEM功能，使用者只需設定SEM影像的採集條件和視場，即可自動獲得SEM影像和EDS（能量色散X射線光譜測定）分析的結果。該功能將有助於提高包括分析在內的日常工作效率。 2. Live3D功能可現場建構3D影像 在進行SEM觀測的同時，可現場建構3D影像，以獲得凹凸和深度資訊。 3. 「樣品台導航系統LS」讓使用者能夠獲得相當於傳統系統5倍區域的光學影像 「樣品台導航系統LS」能夠獲得相當於傳統系統5倍區域（直徑約159mm）的光學影像。獲得觀測樣本的光學影像後，使用者只需輕鬆地在影像上點選，即可移動到需要觀測的目的地區域。 4. 配備「低真空混合二次電子探測器(LHSED)」，即使在低真空條件下也能獲得增強的形貌資訊 該探測器同時收集電子和光子信號，即使在低真空條件下也能產生具有高訊號雜訊比的影像和增強的形貌資訊。 5. 5軸馬達控制樣品台 標配5軸馬達控制樣品台，使用戶能夠更方便地對凹凸不平的樣品進行SEM影像採集和EDS分析。 6. 改進的電子槍穩定性(JSM-IT710HR) 進一步提高了電子束的穩定性，可長時間自動連續作業，採用可同時裝載多個樣品的樣品架。 年銷量目標 JSM-IT710HR：150台/年 JSM-IT210：250台/年 JEOL Ltd. 3-1-2, Musashino, Akishima, Tokyo, 196-8558, Japan Izumi Oi，總裁兼執行長 （股票代碼：6951，東京證券交易所主要市場） www.jeol.com 免責聲明：本公告之原文版本乃官方授權版本。譯文僅供方便瞭解之用，煩請參照原文，原文版本乃唯一具法律效力之版本。
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