檳城「SEMICON東南亞」　愛德萬測試4/25-27日展示ATE解決方案

參觀半導體測試設備領導供應商愛德萬測試（Advantest Corporation）位於東南亞國際半導體展（SEMICON Southeast Asia）的攤位，搶先一步了解其最新半導體測試解決方案。東南亞國際半導體展（SEMICON Southeast Asia）將於2017年4月25-27日假馬來西亞檳城體育館（SPICE Arena）盛大展開，愛德萬測試為本次大會的銀級贊助商。

愛德萬測試本次參展以「量測互連網世界及其事物」（Measure the Connected World and Everything in It）為主題，將於「B139」攤位展示EVA100量測系統，該系統無論是針對設計還是產品的量測作業都採用相同的測試序列，客戶因此得以在整個作業過程中建立標準化的量測環境，大幅縮短產品上市的時程。此外，EVA100系統採用訴諸於直覺的圖形化輔助使用者操作介面（GUI），故不需要複雜的程式語言。愛德萬測試將在攤位內外舉行多場會議，和與會貴賓討論EVA100與該公司多元的ATE解決方案產品組合。

4月26日（三）下午1:10，愛德萬測試資深研發暨應用工程師Shang Yang博士，將於「IC失效分析論壇」（IC Failure Analysis Forum）發表「運用超高解析度TDR系統之高密度LSI失效分析技術」（High-Density LSI Failure Analysis Technology Using an Ultra-High Resolution TDR System）論文。

4月27日（四）中午12:00，愛德萬測試職員應用工程師Tuttipattu Ramaswamy Sujanandan先生，將於「產品與系統測試論壇」（Product & System Test Forum）發表「物聯網──創造經濟合算的多測試埠RF解決方案」（IoT-Creating a Cost Effective High MultiSite RF Solution）論文。