半導體測試設備領導者愛德萬測試（Advantest）發表全新EVA100數位解決方案，為不斷擴增的EVA100量測系統產品線增添生力軍。EVA100數位解決方案可廣泛應用於各類數位IC測試，包括物聯網元件、微控制器、可測試性設計（design-for-test）和內建自我測試（BIST）半導體與邏輯IC。EVA100數位解決方案提供量產型與工程開發型機種，功能包括設計評估、前端與後端量測、電路故障分析、封裝效驗及品質允收檢驗。
許多物聯網應用電子產品在接收類比訊號後需轉換成數位訊號，才能將資訊傳遞出去，這一連串處理需要以整合式數位IC來處理，然而數位IC在成本考量上十分嚴苛，市場競爭極為激烈，且在廣泛應用於各種不同領域的同時，必須遵循許多領域嚴格規範的安全性與可靠性標準，其中元件效能與精確度的重要性自是不言可喻。基於這些因素，數位IC製造商通常採取高度混合、小量量產做法，這必須具備功能極多元化且高經濟效益的測試系統才能辦到。
EVA100數位解決方案提供可隨需調整的彈性架構，能夠執行所有數位IC測試所需功能，且具備元件設計評估、數位控制、電源量測及18位元類比量測所需的圖樣生成與比較功能。所有量測資料傳輸速度可達100Mbps，時脈速度高達200MHz，測試效率可見一斑。
EVA100數位解決方案能與其他所有EVA100系統完全相容，並可沿用原平台的直覺式GUI，讓不具高階程式語言編寫能力的使用者也能輕鬆使用。EVA100數位解決方與同產品線的其他產品（包括甫於11月面市的EVA100量產型系統在內）同樣可讓客戶為相關組織，從設計評估到生產製造等部門，自訂通用量測環境，打造標準化平台，建置出市場上現有量測儀或系統無法相比的高效率環境。
此套數位解決方案的另一項特點，就是機身變小，與最初的EVA100量測系統相比縮小了60%，操作方式更加簡化，定期維護工作更輕鬆，有助於節省成本與時間。隨著架構體積的縮減，EVA100數位解決方案也因此能夠提供高可靠性與領先業界的產能。每套輕薄型量測儀提供最多256個量測通道，結合四套EVA100數位解決方案一起運作，即有多達1,024個數位通道，讓製造廠可依照不同元件輕鬆調整產量與再加工製程，以符合市場需求。對使用者來說，EVA100數位解決方案具備了可自行調整成最佳測試環境的彈性，以便於針對大多採可測試性設計的邏輯電路與物聯網元件進行測試。此外，在這套量測系統上，量產製程所用的測試程式將能適用於設計與評估製程，如此可省去更改程式碼的麻煩，也同時加速新元件上市時程。
愛德萬測試常務執行董事南雲悟表示：「從車用電子零組件到智慧城市，物聯網概念與相關產品無一不吸引業界爭相投入開發熱潮，感測元件等電子零組件需求也因此攀升。為滿足此市場的需求，愛德萬測試現在針對EVA100平台增加了數位IC測試功能，讓數位IC測試也能運用其他領域擁有的最佳化測試功能。」
愛德萬測試是世界知名的半導體自動測試設備領導供應商，專為電子設備與系統設計與製造廠商提供首屈一指量測設備。現今全球最先進半導體生產線均採用該公司領先業界的系統與產品。此外，該公司亦深耕奈米和太赫茲 (terahertz) 技術的發展，積極開發新興市場，近日更推出攸關光罩製造的多視角量測掃描式電子顯微鏡，以及突破現有技術限制的3D成像暨分析工具。該公司在1954年於東京成立，並在1982年於美國成立第一家子公司，迄今子公司遍佈全球。進一步資訊請至公司網站www.advantest.com。
（圖由愛德萬測試提供／半導體測試設備領導者愛德萬測試（Advantest）發表全新EVA100數位解決方案，為不斷擴增的EVA100量測系統產品線增添生力軍。）