愛德萬新系統 強攻記憶體測試

行動裝置產品銷售量攀升，智慧型手機及平板電腦內建的動態隨機存取記憶體(DRAM)、NAND快閃記憶體(NAND Flash)與多晶片封裝記憶體(MCP)，正快速提升速度與容量發展，相關趨勢也在網路和雲端伺服器市場出現。

愛德萬指出，記憶體元件種類繁多，測試成本是一大負擔，晶片製造商需要一套具備先進功能、高效能，可兼顧低測試成本的解決方案。

愛德萬測試推出多功能記憶體測試系統，可針對從LPDDR3-DRAM、高速NAND快閃記憶體、到新一代非揮發性記憶體IC等，提供晶圓測試和IC測試功能，可縮減測試時間，提升產能。

愛德萬測試表示，新記憶體測試系統提供高速失效位置儲存分析功能與失效分析功能，執行速度有助加快測試、修復更多IC、提升良率。這兩項功能皆可增加CPU來提高運算速度。

目前愛德萬記憶體測試系統已在全球安裝超過8000套。