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支援記憶體測試 愛德萬推方案

中央社/ 2014.03.18 00:00
(中央社記者鍾榮峰台北18日電)測試設備大廠愛德萬測試(Advantest)推出電源供應(DPS)單元模組,可支援eFlash記憶體IC等測試。

愛德萬測試表示,高密度元件電源供應單元模組,可讓V93000測試平台提供待測元件所需較大的操作電壓區間,透過相關模組,V93000平台可從低通道擴充成高通道。

愛德萬測試指出,V93000測試平台搭配高密度元件電源供應單元新模組,可並列同測1024個獨立元件,多元件並測效率高達99.9%。在小型A級或C級測試頭配置下,電源供應單元新模組可針對多電源域測試提供極高密度,提供經濟效益高的解決方案。

愛德萬測試表示,高密度元件電源供應單元模組適合各種元件測試應用,包括eFlash及單次可程式記憶體(OTP)等。

愛德萬測試表示,透過電源供應單元模組,V93000平台可成為高密度測試設備,許多eFlash記憶體廠商,特別是中國大陸廠商,對相關產品抱持高度興趣。

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