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宜特建構微機電失效分析流程

中央商情網/ 2013.10.15 00:00
(中央社記者張建中新竹2013年10月15日電)電子產品驗證服務廠宜特科技(3289)今天宣布,成功建構微機電(MEMS)重力加速計(G-Sensor)標準失效分析流程。

看好MEMS未來成長潛力,宜特2007年即開始布局MEMS等新興產品失效分析技術。

宜特表示,許多公司在尋找MEMS元件失效狀況時,因對結構認知度及掌握度不夠,以傳統方式做開蓋觀察;不但無法找出真正原因,反而容易造成元件汙染,製造更多失效盲點。

宜特指出,自行研發的MEMS失效分析流程是結合無應力的元件移除技術,以非破壞方式保留結構原貌,避開機械應力和污染產生的非真因失效。

宜特表示,獨家開發的MEMS失效分析流程已通過電子元件檢測失效分析技術研討會(ISTFA)認可,並幫助30多家MEMS廠商找出失效點,並對症下藥成功改善。

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