看好MEMS未來成長潛力,宜特2007年即開始布局MEMS等新興產品失效分析技術。
宜特表示,許多公司在尋找MEMS元件失效狀況時,因對結構認知度及掌握度不夠,以傳統方式做開蓋觀察;不但無法找出真正原因,反而容易造成元件汙染,製造更多失效盲點。
宜特指出,自行研發的MEMS失效分析流程是結合無應力的元件移除技術,以非破壞方式保留結構原貌,避開機械應力和污染產生的非真因失效。
宜特表示,獨家開發的MEMS失效分析流程已通過電子元件檢測失效分析技術研討會(ISTFA)認可,並幫助30多家MEMS廠商找出失效點,並對症下藥成功改善。