宜特建構微機電失效分析流程

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12 年前

（中央社記者張建中新竹2013年10月15日電）電子產品驗證服務廠宜特科技(3289)今天宣布，成功建構微機電(MEMS)重力加速計(G-Sensor)標準失效分析流程。

看好MEMS未來成長潛力，宜特2007年即開始布局MEMS等新興產品失效分析技術。

宜特表示，許多公司在尋找MEMS元件失效狀況時，因對結構認知度及掌握度不夠，以傳統方式做開蓋觀察；不但無法找出真正原因，反而容易造成元件汙染，製造更多失效盲點。

宜特指出，自行研發的MEMS失效分析流程是結合無應力的元件移除技術，以非破壞方式保留結構原貌，避開機械應力和污染產生的非真因失效。

宜特表示，獨家開發的MEMS失效分析流程已通過電子元件檢測失效分析技術研討會(ISTFA)認可，並幫助30多家MEMS廠商找出失效點，並對症下藥成功改善。

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