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愛德萬明年4月辦年度測試會議

中央商情網/ 2012.12.07 00:00
(中央社記者鍾榮峰台北2012年12月7日電)測試設備大廠愛德萬測試(Advantest)2013年4月將舉辦第7屆年度VOICE會議,探討系統單晶片與記憶體元件及分類器測試技術。

愛德萬測試表示,明年2013年4月23日到25日將在美國加州聖荷西舉辦第七屆年度VOICE會議,預計以系統單晶片(SoC)與記憶體元件測試機台和分類機的創新測試解決方案為主題;規劃技術簡報、一對一會議及供應商博覽會,實機操作研習和展示區。

愛德萬測試指出,VOICE技術論壇將分成5場研討會,主題涵蓋微處理器、微控制器、通訊、汽車元件、CMOS影像感測元件、電源管理IC等特定元件相關測試技術;測試工程效率:測試技術與方法;量產測試;以及記憶體測試等內容。

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