愛德萬明年4月辦年度測試會議

愛德萬測試表示，明年2013年4月23日到25日將在美國加州聖荷西舉辦第七屆年度VOICE會議，預計以系統單晶片(SoC)與記憶體元件測試機台和分類機的創新測試解決方案為主題；規劃技術簡報、一對一會議及供應商博覽會，實機操作研習和展示區。

愛德萬測試指出，VOICE技術論壇將分成5場研討會，主題涵蓋微處理器、微控制器、通訊、汽車元件、CMOS影像感測元件、電源管理IC等特定元件相關測試技術；測試工程效率：測試技術與方法；量產測試；以及記憶體測試等內容。