SICK OD200位移感測器：複雜表面也能穩定量測，高效能新標竿

SICK 於 2025 年 7月在德國瓦爾德基希正式推出全新 OD200 短距離迷你型位移感測器。其在高度反光、黑色或不規則表面上展現卓越的量測穩定性，為同級距感測器樹立全新標竿。OD200 採用全新開發的量測核心、高解析度接收器以及升級的光學系統，讓量測值更穩定，觸發判斷更可靠且一致。即使面對條件複雜的應用場景，也能有效提升生產力。OD200 支援即插即用（Plug and Play）安裝，操作簡便，具備各種標準連接介面，可在不犧牲量測效能的前提下，提供高速處理能力。除了輸出實際的量測資料外，也可提供相關資料，用於即時改善量測效能或進行狀態監控，讓 OD200 成為汽車、消費性電子、機械與設備製造等多元產業的理想解決方案。OD200 擴充了 SICK 在位移感測器的產品組合，同時補強了現有 OD Mini 系列的應用場景，也可望成為市場現有標準的重大升級選擇。

OD200 —— 解決高反光、黑色與不規則表面量測難題的最佳方案

在工業製造、組裝與品質檢測流程中，碳纖維複材、壓鑄件、細緻金屬紋理等反光或不規則材料表面常因材質結構複雜或光線條件不佳，導致量測誤差甚至無法取得資料。OD200 能在這些極具挑戰性的表面上，仍維持高準確度的量測表現。

穩定可靠的量測表現，適用各種材質與環境條件

OD200 可在複雜表面上提供更穩定、準確的量測結果。這項表現來自於其新開發的三角測量核心與高效演算法，目前可支援最高達 3 kHz 的處理速度。產品預計將於 2025 年 7 月上市，並提供多種量測範圍選擇，從 25 mm 到 160 mm 不等。

高解析度接收器可確保即使是低反射表面也能被穩定辨識；而改善的光學系統則提升了光點的幾何形狀與均勻性，增強抗環境光干擾能力。整體而言，OD200 能夠穩定應對高光澤、反光極強、甚至幾乎無反射的物體，以及紋理不一或亮度不均的表面，大幅降低誤測與漏測情形，明顯優於市面上常見產品，進而減少停機、降低調整與維護頻率，提升整體生產效率。

整合與啟用：真正的即插即用

OD200 的安裝與整合支援業界所有標準，機身採迷你化設計，即使在空間狹小處也能靈活安裝。預設參數與智慧演算法搭配直覺化的選單式操作介面，讓設定與操作更加輕鬆快速。無需進一步參數設定即可啟用，真正達成 Plug and Play 效益。

連接方面，OD200 支援所有主流業界標準介面與 I/O，包括 IO-Link、類比電流/電壓輸出，以及 1 組輸入與輸出開關訊號。這讓其在自動化系統與工業 4.0 應用中具備極高的整合彈性。透過 IO-Link，即使在難以觸及的位置安裝，也能完整存取感測器資料。

即時改善與狀態監控功能

除了量測資料外，OD200 還可提供額外作業資訊，例如曝光時間或訊號峰值寬度，這些資訊可用於計算距離，也可作為即時改善感測效能與進行設備狀態監控的依據，協助提升整體流程穩定性與效率。