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成大教授李昆忠 獲選IEEE會士

中央社/ 2016.12.06 00:00
(中央社記者張榮祥台南6日電)成功大學今天表示,致力於積體電路測試技術研究的成大電機工程學系教授李昆忠,已獲選為電機電子工程師學會會士(IEEE Fellow)。

成大指出,李昆忠發明的廣播式掃描測試技術,已成為高複雜度積體電路最常採用的測試資料壓縮方法,使用此方法測試或衍生技術的積體電路晶片超過數十億顆。

李昆忠已發表210餘篇期刊及會議論文,這在積體電路測試領域非常不容易。他的論文多在高品質的IEEE期刊及國際頂尖會議發表,在今年全球最高水準的國際測試會議,他就發表3篇論文。

目前,李昆忠是IEEE亞洲測試會議指導委員會主席、IEEE測試技術理事會亞洲及太平洋區主席、IEEE國際設計、自動化及測試會議執行委員會委員及IEEE高階測試研討會指導委員會委員。

電機電子工程師學會(Institute of Electrical and Electronics Engineers,簡稱IEEE)創立於1963年,是世界最大的專業技術組織之一,擁有170多個國家42萬名會員,總部設於美國紐約市,在全球150多個國家也有分會。

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