東京國際半導體展　愛德萬測試將展示物聯網各式應用的測試解決方案

針對物聯網各式應用，半導體設備測試領導供應商愛德萬測試（Advantest），即將於12月14-16日在東京國際展示場舉行的「2016年SEMICON Japan國際半導體展」上，透過現場與互動式產品展示，以及技術論文發表，呈現業界最廣泛的測試解決方案，並且仍將擔任今年該展會的黃金贊助商。

從愛德萬測試最新的測試解決方案到旗下獲業界肯定的產品，都將展示於位在第二展館#2445的攤位。展出的產品將分成物聯網應用常見的四大類型：工業、無線/穿戴式裝置、智慧家居以及連網汽車。愛德萬特色產品與服務，將含括領先業界的測試與測量平台、提高效能的模組與通道卡、電子束測量與光刻工具、測試分類機、可供下載的測試程式、燒機測試系統、探針卡與現場服務。

愛德萬將透過現場與虛擬實境展示以及數位繪圖，提供技術見解，與會來賓可藉此獲悉愛德萬測試於全球各地推出的所有最新IC測試創新技術。

愛德萬測試全球行銷傳播副總裁Judy Davies表示：「愛德萬致力提供客戶物聯網世界所需的量測解決方案以及所有相關產品。我們於今年度SEMICON Japan展覽會上的展出將體現此承諾，提供舊雨新知兼顧娛樂與知識的體驗。」

在12月15日下午2點20分於自駕與車連網論壇上，愛德萬測試ASD測試與量測事業群副總裁Shin Kimura將於會議大樓的A接待廳發表「物聯網社會與測試技術」的技術論文。除了發表論文，愛德萬亦是此論壇的贊助商。

若想進一步獲得領導供應商愛德萬測試解決方案的最新訊息，歡迎追蹤愛德萬測試的Twitter帳號@Advantest_ATE