為物聯網裝置提供一站式測試服務，半導體測試設備領導廠商愛德萬測試推出的多功能T2000 AiR系統，已開始受理最新T2000 AiR測試系統的訂單，此款小巧型風冷散熱式測試系統專為滿足研發階段，以及少量多樣化生產時所需的低成本測試需求而生。預計將於2017年第一季開始對客戶供貨。
全球市場對於智慧型手機與其他行動電子裝置需求持續攀升，消費者與企業對網路服務的需求也水漲船高，進而推升複合型半導體晶片與模組的產量。這些晶片與模組整合微控制器(MCU)與應用處理器，以執行電子通訊、電源管理以及訊息感測在內的多項功能。
愛德萬測試最新推出的T2000 AiR專為這些不同的模組與系統級封裝(SiP)晶片提供廣泛的測試解決方案。測試機台本身採用的模組化架構，提供了優異的靈活度，此款測試機台最多可以配置六個獨立型風冷式散熱量測模組，如此便能針對各式各樣高整合與多功能晶片提供單一的系統測試。此系統專門用於執行數位功能以及掃描測試(最高可在512個平行通道進行測試)，測試範圍包括：最高可達到2,000伏特的耐高壓晶片、高精度DC轉換器、車用DC晶片、最高達到100MHz的混合訊號積體電路(IC)、射頻通訊晶片與互補式金屬氧化物半導體(CMOS)影像感測器。
此新款測試機可與M48xx系列分類機整合，創造高效能、不佔空間的測試解決方案。愛德萬測試稱之為整合式零佔位測試站(Zero Test Station)。由於T2000 AiR不需配置水冷式散熱系統，可被安裝在任何地方。不僅如此，此系統的軟體環境可完全相容於具高度可擴充性的T2000系列，因此可以進行大規模平行測試，加速生產流程，有助用戶縮短新品上市時間。
愛德萬測試SoC測試業務部資深副總裁Masayuki Suzuki表示，隨著最新T2000 AiR的問世，愛德萬測試持續擴展既有T2000平台的功能，以進一步滿足整合元件製造商(IDM)、晶圓代工廠與物聯網應用的IC設計業者之測試需求。
（圖由愛德萬測試提供／為物聯網裝置提供一站式測試服務，半導體測試設備領導廠商愛德萬測試推出的Integrated Zero Test Station Zero-Footprint Test Cell Solution。)