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為物聯網裝置提供一站式測試服務 愛德萬測試推出多功能T2000 AiR系統

大成報/ 2016.11.11 00:00
【大成報記者羅蔚舟/新竹報導】

為物聯網裝置提供一站式測試服務,半導體測試設備領導廠商愛德萬測試推出的多功能T2000 AiR系統,已開始受理最新T2000 AiR測試系統的訂單,此款小巧型風冷散熱式測試系統專為滿足研發階段,以及少量多樣化生產時所需的低成本測試需求而生。預計將於2017年第一季開始對客戶供貨。

全球市場對於智慧型手機與其他行動電子裝置需求持續攀升,消費者與企業對網路服務的需求也水漲船高,進而推升複合型半導體晶片與模組的產量。這些晶片與模組整合微控制器(MCU)與應用處理器,以執行電子通訊、電源管理以及訊息感測在內的多項功能。

愛德萬測試最新推出的T2000 AiR專為這些不同的模組與系統級封裝(SiP)晶片提供廣泛的測試解決方案。測試機台本身採用的模組化架構,提供了優異的靈活度,此款測試機台最多可以配置六個獨立型風冷式散熱量測模組,如此便能針對各式各樣高整合與多功能晶片提供單一的系統測試。此系統專門用於執行數位功能以及掃描測試(最高可在512個平行通道進行測試),測試範圍包括:最高可達到2,000伏特的耐高壓晶片、高精度DC轉換器、車用DC晶片、最高達到100MHz的混合訊號積體電路(IC)、射頻通訊晶片與互補式金屬氧化物半導體(CMOS)影像感測器。

此新款測試機可與M48xx系列分類機整合,創造高效能、不佔空間的測試解決方案。愛德萬測試稱之為整合式零佔位測試站(Zero Test Station)。由於T2000 AiR不需配置水冷式散熱系統,可被安裝在任何地方。不僅如此,此系統的軟體環境可完全相容於具高度可擴充性的T2000系列,因此可以進行大規模平行測試,加速生產流程,有助用戶縮短新品上市時間。

愛德萬測試SoC測試業務部資深副總裁Masayuki Suzuki表示,隨著最新T2000 AiR的問世,愛德萬測試持續擴展既有T2000平台的功能,以進一步滿足整合元件製造商(IDM)、晶圓代工廠與物聯網應用的IC設計業者之測試需求。

(圖由愛德萬測試提供/為物聯網裝置提供一站式測試服務,半導體測試設備領導廠商愛德萬測試推出的Integrated Zero Test Station Zero-Footprint Test Cell Solution。)

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