由半導體測試設備領導供應商愛德萬測試（Advantest）主辦的2017年度VOICE開發者大會，即日起向國際徵集半導體測試解決方案、最佳應用與創新技術相關論文發表；這次大會上的VOICE技術資訊站展示，將針對愛德萬測試V93000與T2000系統單晶片（SoC）測試平台、記憶體測試機台、分類機、測試機解決方案、產品工程和測試技術的使用者，進一步加入更多互動討論的議程。
愛德萬測試表示，依循往例，2017年度VOICE開發者大會在兩個地點盛大展開，5月16至17日於美國加州棕櫚泉（Palm Springs）印第安維爾斯凱悅Spa度假酒店（Hyatt Regency Indian Wells Resort & Spa）揭開序幕，5月26日則移師成長前景可期的中國市場，於上海錦江湯臣洲際大酒店(InterContinental Shanghai Pudong)登場，兩場會議皆以「洞悉連網世界與其中奧秘」（Measure the Connected World and Everything in It）為主軸。
VOICE大會係由愛德萬測試志工代表及其客戶組成之指導委員會負責管理，是愛德萬測試為旗下V93000與T2000系統單晶片測試平台、記憶體測試機、分類機與測試機解決方案不斷成長的使用者及策略合作夥伴國際社群所籌辦的重要會議。VOICE大會為業界攜手提升半導體測試作業效率及成本效益的一大良機，與會者可藉此機會獲取並交流寶貴的意見，建立長期合作關係，並進一步了解愛德萬測試的測試設備、分類機產品及各類應用。
VOICE開發者大會即將於2017年邁入第二個十年，愛德萬測試將持續提供與會者精進知識與廣建人脈的平台，包括聚焦於八條技術路線的技術發表會、合作夥伴的展示會以及社交活動。在每一年的VOICE大會上，來自全球整合元件製造商（IDM）、晶圓廠、IC設計公司和封測代工（OSAT）供應商領導業者的半導體測試專家齊聚一堂，互相交流資訊與想法。
VOICE 2017主席暨愛德萬測試資深技術應用工程師Simondavide Tritto表示：「VOICE 2017大會以『洞悉連網世界與其中奧秘』為主題，聚焦於物聯網（IoT）、車聯網（V2X）、藍牙低功耗（BLE）等應用廣泛的互連技術。半導體IC測試需要更複雜的功能，包括新概念的驗證與提升，在製造階段也需要更創新的解決方案。願景和現實在VOICE大會匯聚，IC世界的新趨勢和想法在這裡被討論和挑戰。我很期待向愛德萬測試的使用者分享我們的方案，歡迎大家參與VOICE 2017，無論是在美國棕櫚泉還是中國上海的場次，或者兩場都參加，我們將於會中討論現今這個連網世界的最新技術發展。」
愛德萬測試VOICE 2017大會論文徵件共計下列八項技術路線：
•熱門主題 探悉最新市場成長引擎與未來趨勢，包括V93000 Wave Scale RF與Wave Scale MX測試儀模組、汽車電源類比、物聯網、工程無線標準，以及次世代技術節點所面臨的測試挑戰。
•特定元件測試 包括微控制器（MCU）、特殊應用積體電路（ASIC）、電源管理積體電路（PMIC）、車用雷達、感測器、記憶體、基頻、蜂巢式技術、多晶片封裝……等測試技術。
•硬體設計與整合 包括測試機／分類機整合、針測與封裝測試載板設計，以及細間距元件、最新封裝技術所面臨的挑戰……等等。
•提升產出 縮短測試時間、提高多點並行測試的能力、提升多點並行測試效率、同步測試……等等。
•縮短產品上市時間 包括可測試性設計（DFT）、圖樣模擬／週期化、自動測試程式生成、系統級測試……等等。
•最新軟／硬體測試解決方案 聚焦於採用最新硬體或軟體功能的解決方案。.
•測試方法 包括直流電、射頻、混合訊號或高速數位元件等的測試技術。
•產品工程 包括針對數據分析、測試程式建檔（documentation）／版本化（versioning）以及精簡生產測試技術而設計的軟體和工具。
VOICE 2017誠摯邀請測試開發者將論文摘要投遞至美國或中國場次，也歡迎兩場都參加，交稿請上官網https://voice.advantest.com/call-for-papers，截稿日為2016年11月18日，我們將於2017年1月通知審查結果。在5月登場的VOICE 2017大會期間，與會聽眾將票選出最佳論文，由大會頒發獎項表揚。
欲進一步了解「VOICE 2017開發者大會」相關資訊或贊助機會，請上官網https://voice.advantest.com，或來信洽詢[email protected]。