回到頂端
|||
熱門: 七夕 北海道 茶葉蛋

元智大學2016年台北國際發明展大放異彩 何政恩研究團隊之「三維X光斷層掃描裝置式夾具結構」獲金牌

中央社/ 2016.10.04 00:00
元智大學2016年台北國際發明展大放異彩 何政恩研究團隊之「三維X光斷層掃描裝置式夾具結構」獲金牌

(中央社訊息服務20161004 09:28:46)元智大學團隊日前參加2016台北國際發明暨技術交易展,獲得1鉑金、3金、1銀、3銅,共計8獎項之佳績。其中元智大學化材系教授何政恩研究團隊囊括2金1銅之殊榮。

X射線(X-ray)是一種波長(wavelength)範圍在0.01奈米(nanometer)到10奈米間的電磁波,由德國物理學家威廉·倫琴(Wilhelm Röntgen)於1895年所提出,迄今已廣泛被用於醫學檢查、機場安檢、太空探索、及科學研究等不同領域。以波長0.1奈米作區隔,X射線一般又可再細分為硬X射線(hard X-ray)及軟X射線(soft X-ray)兩種。一般而言,前者(硬X射線)小於0.1奈米,後者(軟X射線)則大於0.1奈米。硬X射線由於具有高穿透性,故也常用來“透視”物體內部之微結構,是一種相當方便的非破壞性(non-destructive)檢測光源。

何政恩表示,三維X光電腦斷層掃描(three-dimensional X-ray computed tomography, 3D X-ray CT)技術是一種以X射線透視物體內部結構,並輔以電腦影像處理之三維影像技術。該技術運作原理主要係透過將檢測件固定於夾具上,接著將其進行360°旋轉,並藉由X光穿透影像(X-ray projection)擷取器(例如:感光耦合元件charge-coupled device, CCD),以收集檢測件不同角度的穿透影像。最後,再將各角度所拍攝的X光穿透影像,利用電腦影像處理重建出檢測件之三維影像,故可以非破壞性方式來進行物體各斷層之微結構分析。

何政恩說,如何讓檢測件於斷層掃描(tomography)分析時能始終維持於旋轉軸心(rotation axis),是斷層掃描分析成敗的關鍵因素之一,這對亟需進行“高倍率”的顯微斷層分析尤是如此。在商業運用上,一組高品質(高倍率)的三維X光顯微斷層掃描影像,由於旋轉軸心定位關係,分析時間大多很長,超過1天以上的分析也是常有的事。為了提升分析效率,研究團隊運用三維X光斷層掃描的可調式裝置結構(如圖1所示)來解決這個擾人問題。

此一發明僅需將檢測件固定於可調式裝置結構上,再透過連接裝置的調整,即可快速將檢測件調整至最適之檢測範圍內(旋轉軸心)。可大幅提升三維X光斷層掃描之使用效率。就實務經驗來說,一組高品質之三維X光斷層掃描影像所需時間將可大幅縮短,由原先可能長達一天以上,縮短為數小時內即可達成,大幅增進分析效率。

此創新技術將有助於提升微小元件之內部微結構的檢測效率(如晶片、印刷電路板、BGA錫球缺陷),目前此技術已取得中華民國(I545316)及美國(US9194822B2)兩項發明專利,並已技轉給實密科技(元智大學技術轉移編號:RD1030282)。該研究團隊更曾多次將其成功應用於英國DAGE三維X光斷層掃描機台(型號:DAGE 7600NT-100)上。日前這項發明則榮獲2016年台北國際發明展「金牌」的肯定。

訊息來源:元智大學

本文含多媒體檔 (Multimedia files included):

http://www.cna.com.tw/postwrite/Detail/201476.aspx

社群留言