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Semicon Taiwan NI將展示最先進智能型開放式ATE自動化測試設備

大成報/ 2016.09.05 00:00
【大成報記者羅蔚舟報導】

「2016 SEMICON Taiwan」國際半導體展,將於9月7到9日在台北南港展覽館一館舉行,NI國家儀器(Nasdaq: NATI) 身為平台式系統供應商,協助工程師與科學家解決全球最艱鉅的工程挑戰,特於「2016 SEMICON Taiwan」展出專為半導體生產環境而設計的NI半導體測試系統 (Semiconductor Test System,簡稱 STS),解決現今半導體公司面臨智慧裝置複雜化的挑戰,降低廠商從特性量測到生產製造的系統成本,進而協助半導體業者邁向智能型自動化測試設備(ATE)的階段。

NI國家儀器表示,在充滿智慧裝置的物聯網時代,多元且複雜化的半導體零組件應運而生,讓半導體廠商在進行各項待測物量測時面臨極大的挑戰。NI國家儀器將於國際半導體展亮相的NI半導體測試系統STS具備開放式PXI架構,結合了模組化儀器與系統設計軟體,幫助測試系統工程師運用最先進的PXI儀器,滿足RF無線通訊和混合式訊號生產等最新半導體技術的測試需求。

相較於過往使用的傳統半導體自動化測試設備(ATE),NI國家儀器表示,STS提供半導體生產環境豐富的功能組合,包含可客制化的操作介面、分類機及針測機的整合、彈簧探針與待測裝置之間的銜接、標準測試資料格式(STDF)的報表製作及系統自動校準等功能,不僅提升工程師開發測試程式的速度、加以除錯並完成佈署,更可讓半導體廠商縮短其產品的上市時間。

NI國家儀器表示,除了專為主流半導體生產設計的STS,NI提供的開放式PXI模組化硬體平台,可搭配圖型化的開發軟體LabVIEW及自動化測試排成管理TestStand,加速工程師開發RF無線通訊與混合式訊號測試的時間,並降低開發過程的總成本,讓半導體廠商享有更完整的自動化測試解決方案。其中,符合工業標準的開放式平台PXI,完全滿足了半導體IC測試及驗證所需的高靈活度開發環境,舉凡智慧型手機、平板電腦、穿戴式裝置、RFIC,甚至小型CMOS相機均可在此平台進行各項測試。

透過NI最先進的STS及有效運用半導體測試的開放式平台PXI,企業可開發出更多創新應用產品,助力半導體產業前往智能型測試新世代。NI歡迎所有業界先進在2016 SEMICON Taiwan大展期間,蒞臨NI位於南港展覽館4樓J2628的攤位,一同見證工程師如何在開發、測試及佈署等環節,輕鬆使用高整合度、多功能的半導體測試系統,協助客戶邁向智能型開放式自動化測試系統的階段。

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