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善用智慧效能測試與量測 NI研討會為工程師指點迷津

大成報/ 2016.07.22 00:00
【大成報記者羅蔚舟/新竹報導】

為協助工程師與科學家解決全球最艱鉅的工程挑戰,身為平台式系統供應商的國家儀器(NI),於7/19-7/21在台南、新竹、台北三地,分別舉辦2016自動化測試與量測技術研討會,透過系列講座與實機展示,剖析自動化測試與量測的最新趨勢、分享PXI平台如何協助客戶進入物聯網時代及提供有效管理巨量類比資料(Big Analog Dara)的解決方案。

隨著物聯網時代的到來,市場對智慧裝置的需求不斷攀升,多功能、複雜化及產品生命週期逐年縮短儼然為大勢所趨;面對此趨勢,工程師們須採用更智能化的量測與測試方式,才能進一步提升研發能量並縮短產品上市時程。根據市場研究機構Gartner預估,2016年全球將有高達64億個物聯網裝置,其中4億個為消費性裝置,面對如此強勁的需求,NI提供工程師開放式且彈性佳的PXI自動化測試平台,協助光電產業、半導體產業、車用業者、製造業及學術界的合作夥伴們,降低測試智慧裝置的複雜度、縮短測試與量測的時程,並加速驗證及產線的量產。

為了幫助工程師簡化平行測試與測項排程的過程,並提升智慧裝置在量測上的精準度與速度,NI近日推出業界最高精度的NI PXIe-4135電源量測單元(SMU),提供10 fA的量測靈敏度與高達200 V的電壓輸出,讓工程師可透過其靈活彈性、高通道數密度、絕佳的測試輸出率量測低電流訊號,並執行晶圓參數測試、材料研究、低電流感測器與IC的特性測試等多種應用。如此不僅可減少測試時間、增加通道密度,還可提供更優良的量測品質,簡化測試系統在實驗室與生產線上的建置與佈署。

而在提升工程師測試的精準度及速度的同時,智慧裝置的導入也讓如何有效管理巨量類比資料(Big Analog Dara)、提供及時分析等需求日益上升。國家儀器行銷部葉俊寬指出,「隨著物聯網裝置的多樣化,有效管理海量資料為核心關鍵,我們必須重新思考傳統的測試方式,並了解資料截取在海量資料中的重要性。為了讓我們的合作夥伴更有效地管理巨量類比資料,NI致力與合作夥伴共同打造模組化平台,讓工程師能更簡易地在平台上於數秒內截取、自動分析資料並產出報表。」

讓工程師可善用更具智慧效能的測試與量測解決方案,協助客戶降低測試成本及縮短測試時程是NI的使命,藉由NI所提供的完整軟硬體平台,將可以更快速的解決客戶所面臨的挑戰,並為產業帶來更好的智能化測試與量測環境。

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