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愛德萬測試推出V93000 Wave Scale Cards 縮減RF半導體測試成本

大成報/ 2016.07.19 00:00
【大成報記者羅蔚舟/新竹報導】

日本東京─2016年7月6日─半導體測試設備領導供應商愛德萬測試推出用於V93000平台的Wave Scale™系列通道卡,可提供無線通訊在測試射頻(RF)與混合信號IC時前所未有的平行度與產能。全新的V93000 Wave Scale RF及V93000 Wave Scale MX卡是為了提供高度平行多元件同測及元件內部平行測試所打造,能夠大幅縮減現有RF半導體的測試成本及上市時間,並且為未來5G裝置的測試開創新途。

愛德萬測試即日起受理Wave Scale RF與Wave Scale MX卡的訂單,預計今年第三季開始對客戶批量供貨。目前第一批Wave Scale卡已由中國的一家無晶圓廠半導體公司採用,目前正用於測試現有的LTE Category 6元件,以及用來開發LTE-Advanced Category 10及Category 16以上通訊IC的測試協定。

愛德萬測試表示,全新的通道卡以射頻及無線通訊市場為目標,對於用來發展LTE、LTE-Advanced、LTE-A Pro等智慧型手機,以及LTE-M、WLAN、GPS、ZigBee、藍芽及物聯網應用相關的半導體元件,提供高效率的測試解決方案。這些新通道卡除了能夠因應今日的市場需求,同時也足以面對5G網路的技術變革。

V93000 Wave Scale卡在架構上比現有的市場產品更為先進。傳統的射頻測試解決方案是針對射頻IC執行多元件測試,例如四元件或八元件同測,但是每次只能在每個元件上測試一項射頻標準。Wave Scale RF及相應的Wave Scale MX卡則能夠在每個射頻元件內同時測試多個標準或路徑,藉由達到元件內部的平行度與極高的多元件同測效率,大幅降低了這些複雜射頻裝置的測試成本。

Wave Scale RF卡有四組獨立的射頻子系統,個別具備訊號產生及頻率量測的設計,因此可同時測試LTE、GPS、藍芽、WLAN裝置。每個子系統分別有八個連接埠,可同時扇出射頻訊號,亦有高達四組獨立的量測工具。這能讓每個射頻子系統同時在八個元件上執行RX(接收器)及TX(發射器)的測試,每張卡最多可達32個同測元件。Wave Scale RF每張卡的32個射頻埠可各自支援達6GHz,再加上200-MHz頻寬及其他包括內部回送(internal loopback)與內嵌校正(embedded calibration)等眾多功能,可廣泛應用於未來的5G半導體裝置。

愛德萬測試表示,Wave Scale MX高速卡每張卡具有32組完全獨立的工具,針對類比IQ基頻應用和高速數位類比轉換器(DAC)與類比數位轉換器(ADC)提供最佳化的設計,每個腳位均有一組參數測量單元(PMU),可執行極精準的直流量測。其16-bit交流電源及測量功能則為基頻通訊標準提供了絕佳的效能。而其300-MHz的頻寬則可處理最新的高階調變標準,包括針對累加式基頻通道的通道外測量。高度彈性的I/O矩陣設計可減少測試載板的複雜性並提升多元件同測能力,在每個腳位提供最完整的功能。此卡無須專用的校正設備,只需另一張載板進行IQ校正。

V93000的Wave Scale RF與Wave Scale MX兩張新卡均具備硬體定序器(hardware sequencer),可控制所有工具的平行及獨立運作。

愛德萬測試產品事業資深副總裁Hans-Juergen Wagner表示:「Wave Scale能讓我們的客戶跟上未來半導體越來越快的技術變化。使用Wave Scale,現行及次世代元件的測試都會更有效率且更具成本效益,也會加快上市時間。」

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