愛德萬測試發表最新產品T5830系統 專為行動電子半導體記憶體測試所設計
全球半導體測試設備領導者愛德萬測試(Advantest)發表的記憶體測試系統T5830，是T5800系列旗下最新產品，能為行動電子裝置所採用的各式快閃記憶體，提供符合成本效益最佳化的測試能力。愛德萬測試執行董事山田弘益表示：「我們最新的記憶體測試機，具備了自動測試設備(ATE)的完整功能及可擴充性能，將可滿足中國、台灣等地不斷激增的物聯網(IoT)與智慧卡市場需求。」
愛德萬測試表示，隨著可攜式應用蓬勃發展，市場分析機構VLSIresearch預估，全球快閃記憶測試設備市場可望在2018年達到1.48億美元的市值。若要使非揮發性記憶體測試符合成本效益原則，便需具備多功能的通用平台，才能提高投資報酬率並降低用戶的財務風險。
愛德萬測試表示，T5830測試機擁有極高的靈活度，功能一應俱全，不論是針對晶圓測試，或是價格敏感高的快閃記憶體最終測試，T5830都能一次滿足。T5830的可擴展性、內建大電流可編程電源(PPS)，能為各種不同腳位的產品提供靈活、且更經濟的效能表現。T5830系統採用了愛德萬測試創新的Tester-per-Site™設計，因此每個Site都能獨立運作，有助加快測試時間，降低整體測試成本。
T5830的運轉頻率為400 MHz，資料傳輸速度最快可達800 Mbps。此外，在4個數位腳位的配置下，T5830具備同時測試2,304個待測物(DUT)的能力。
愛德萬測試表示，有了這些功能，愛德萬測試的最新測試機可廣泛應用於各種裝置，包括使用SPI介面協定的NOR和NAND快閃記憶體、智慧卡和SIM記憶體等低腳位快閃裝置、EEPROM記憶體，與其他內嵌快閃裝置。
T5830測試機可適用於生產及工程開發，因此除了品質測試外，也能應用在大量生產。愛德萬測試表示，T5830與其他T5800系列產品一樣，均使用相同的平台及FutureSuite™軟體，如此將可確保系統的可靠度，並提供模組升級能力。愛德萬測試預定T5830系統於今年第2季開始出貨。
