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愛德萬測試贊助SEMICON China技術論壇 展示連網全球的半導體測試技術

大成報/ 2016.03.09 00:00
【大成報記者羅蔚舟/新竹報導】

半導體測試設備領導者愛德萬測試(Advantest)訂於3月15~17日,將在上海新國際博覽中心舉行的SEMICON China國際半導體展上,展示連網世界所需的各種測試解決方案。此外,今年愛德萬測試還將贊助兩項SEMICON China的大會活動,分別是「做大做強中國集成電路產業鏈」,以及「中國國際半導體技術大會」(CSTIC)。

從手持行動裝置到整座智慧城市所需的最新測試技術,都將展示於愛德萬測試位於N4展館#4431的攤位。展出的設備包括可將V93000平台功能擴充至所有的功率、類比智慧IC測試的最新AVI64通用類比腳位模組。使用64通道配置的AVI64模組已正式出貨,V93000單一可擴充平台也躍升為市場上應用最廣泛的技術。加入新模組後,V93000平台已可處理所有行動運算與汽車市場所需的SoC裝置測試 。愛德萬將於攤位現場實際展示旗下產品。

展出產品包括具備高度靈活性,可用來進行裝置特性分析的T2000 SoC測試機,以及能對光學收發器進行高效測試的28G光纖連接埠模組(OPM)。不僅如此,也將於攤位上展出能同時運用於T2000與V93000平台,進行無線射頻功率放大器(RFPA)與無線射頻切換器(RFSW)測試的應用模組載板(AMO)單元。

EVA100 Digital Solution則是另一項將展示的重要產品。這套測量系統能運用於生產與工程模型,可針對物聯網時代智慧電子所採用的對成本敏感度高之數位裝置,進行設計評估、前端與後端測量、錯誤分析、封裝檢驗、以及最後的驗收。EVA100 Digital Solution比原本的EVA100 measurement system小了40%,因此可藉由作業及維修的簡化,省下更多時間與金錢。

愛德萬測試還將展出T6391系統,是專為符合成本效益的LCD驅動測試需求所設計;此外還有DRAM及NAND快閃記憶體測試所使用的T5833工程系統、能夠針對模具厚度執行非破壞性測量分析的TS9000 MTA系統,以及各種愛德萬測試推出的分類機、燒機(burn-in test)功能、奈米技術與現場服務展示。想進一步獲得愛德萬測試的最新全球市場活動訊息,歡迎追蹤愛德萬測試的Twitter帳號@Advantest_ATE。

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