半導體測試設備領導者愛德萬測試 （Advantest）將於12月16-18日盛大參與在東京國際展示場Tokyo Big Sight所舉辦的「SEMICON Japan國際半導體展」。除將展示業界最多元的自動化測試設備並發表研究報告外，愛德萬測試也是今年SEMICON Japan的金級贊助商，贊助內容包括：12月16日的主席歡迎招待會（President’s Reception），以及三天展期中於SuperTHEATER舉行的經營階層研討議程，如開幕演講、首日議程中的半導體產業經營階層論壇、智慧生活與智慧車輛科技前瞻論壇等。
今年愛德萬測試將在展覽會場展示數款最新創新產品，這些產品為首次在日本市場公開亮相，包括：EVA100量產型系統與解決量產挑戰的數位解決方案、涵蓋 NAND、NVM與DRAM測試的 T5833記憶體測試機台、可同時應用於通用快閃儲存記憶體（UFS）與PCIe BGA固態硬碟（BGA-SSD）的T5851系統層級測試機台、提供故障電路隔離與分析功能的TS9000 TDR（時域反射）量測儀，以及適用於V93000測試平台的高速並列同測效能模組板與電源多工器（mux）模組、適用於T2000平台進行類比元件與車用元件大量並列同測的模組板解決方案、T2000 28G OPM模組新型待測物治具等。歡迎蒞臨愛德萬測試2545攤位深入了解。
此外，愛德萬測試也將展示其他既有系統在提升產能方面的產品，包括V93000平台的設計評估模組板、T6391 LCD驅動器測試系統的探針卡，以及愛德萬測試獨步業界的隨需性CloudTesting™ 服務專用的CX50工作站。
愛德萬測試ASD測試暨量測事業副總裁Shin Kimura也會在12月16日的TechSTAGE North議程中，以「感測器量產量測技術」（Mass Production Measurement Technology Required for Sensors）為題，提出他對最新IC測試技術的精闢見解。該場議程時間為下午3:10，歡迎產業先進踴躍參加。
愛德萬測試是世界知名的半導體自動測試設備領導供應商，專為電子設備與系統設計與製造廠商提供首屈一指量測設備。現今全球最先進半導體生產線均採用該公司領先業界的系統與產品。此外，該公司亦深耕奈米和太赫茲 (terahertz) 技術的發展，積極開發新興市場，近日更推出攸關光罩製造的多視角量測掃描式電子顯微鏡，以及突破現有技術限制的3D成像暨分析工具。該公司在1954年於東京成立，並在1982年於美國成立第一家子公司，迄今子公司遍佈全球。進一步資訊請至公司網站www.advantest.com。歡迎透過Twitter 追蹤愛德萬測試最新動態：@Advantest_ATE。