全球半導體測試設備領導大廠愛德萬測試（Advantest）7日宣布，發表全新專為高效能通用快閃儲存（UFS）元件與PCIe BGA固態硬碟（SSD）所設計的低成本測試解決方案T5851系統，將可滿足智慧型手機、平板電腦、超可攜式產品等低功耗、行動應用市場對於記憶體IC的強勁需求。
T5851測試系統分別提供了量產機型與工程開發機型，讓客戶可隨需彈性運用於可靠性測試、品質檢驗測試、測試程式開發測試等用途，也能在搭載自動化元件分類機（如愛德萬測試的M6242分類機）的架構下，應用於量產環境。T5851是一套完全整合式的系統層級測試解決方案，不僅提供多種協定支援，且具備tester-per-DUT架構與專有的硬體加速器，使測試時間領先業界。
T5851經實證的測試架構，與旗下固態硬碟測試解決方案MPT3000產品系列一致，並採用與T5800系列產品相同的多功能平台與FutureSuite™軟體，可讓客戶降低降低投資成本與建置風險。此外，其系統設定及效能可隨任何待測物調整而達到最佳表現，同時提供模組化升級能力，以提升客戶未來的投資報酬。
此系統可隨需延展的大電流可編程電源（PPS）支援，能滿足所有不同電流與下一代元件的需求，加上其穩健模組設計與水冷功能，為T5851創造出絕佳可靠性。
愛德萬測試執行董事山田弘益表示：「低功耗行動電子產品的趨勢，帶動了高階儲存解決方案的需求，由於這些儲存產品採用高速省電的序列介面與高效能儲存協定，記憶體IC製造商需要與過去不同等級的測試系統，不但要專為這類元件的系統層級測試製程所設計，還須兼具一般記憶體測試系統所擁有的可靠性、低成本、支援大量測試的能力，而這些要求，T5851全都能滿足。」
量產型系統預計於2016年第一季開始出貨。
愛德萬測試是世界知名的半導體自動測試設備領導供應商，專為電子設備與系統設計與製造廠商提供首屈一指量測設備。現今全球最先進半導體生產線均採用該公司領先業界的系統與產品。此外，該公司亦深耕奈米和太赫茲 (terahertz) 技術的發展，積極開發新興市場，近日更推出攸關光罩製造的多視角量測掃描式電子顯微鏡，以及突破現有技術限制的3D成像暨分析工具。該公司在1954年於東京成立，並在1982年於美國成立第一家子公司，迄今子公司遍佈全球。進一步資訊請至公司網站www.advantest.com。
（圖由愛德萬測試（Advantest）提供／愛德萬測試（Advantest）發表全新專為高效能通用快閃儲存（UFS）元件與PCIe BGA固態硬碟（SSD）所設計的低成本測試解決方案T5851系統，將可滿足智慧型手機、平板電腦、超可攜式產品等低功耗、行動應用市場對於記憶體IC的強勁需求。）