愛德萬表示，相關技術主要用於分析次太赫茲波段(100GHz到1THz)元件的傳輸特性，以及偵測晶片電路故障特徵與位置。
智慧型手機與各類行動裝置日漸普及，無線通訊流量暴增，目前規定頻率範圍內所能負荷的容量，已不敷使用，較高頻率範圍、尚未用於無線通訊的次太赫茲波段，逐漸成為全球研發重點。
愛德萬測試表示，在開發高頻元件過程中，量測系統整體頻率特性相當重要，其中會涉及輸出訊號振幅和相位的反射與傳輸特性的量測。
愛德萬測試開發用於電路分析的短脈衝太赫茲波技術， 採用飛秒光學脈衝雷射做為訊號源，量測效率提升效益，可讓使用者縮短時間、減輕工作負擔、降低成本。