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半導體超快現象 台美合作解謎

中央商情網/ 2015.01.10 00:00
(中央社記者陳至中台北2015年1月10日電)交通大學光電所教授湯朝暉和美國加州理工學院研究團隊合作,透過四維電子顯像技術,完美詮釋了半導體表面上的「超快現象」,刊登於世界頂尖期刊「科學(Science)」。

湯朝暉說,這次對奈米材料特性的新發現,未來可廣泛應用於電子產品,帶來新一波的技術突破。也讓1999年諾貝爾化學獎得主、加州理工學院教授齊威爾(Ahmed H. Zewail),「可望再次贏得諾貝爾獎。」

湯朝暉與齊威爾等人組成的研究團隊,本月9日在「科學」上發表論文「p-n型半導體界面電荷動態之四維顯像」。

湯朝暉解釋,在飛秒雷射脈衝的激發下,荷電粒子團被加熱到超過太陽表面溫度,以每秒將近1000公里的超快速度膨脹。上述「超快現象」只發生在半導體極淺表面上,傳統實驗方法不易檢測。

研究團隊以「四維掃瞄電子顯微技術」,發現超熱電子像是快速移動的子彈,而有超快彈道(ballistic)現象。原因是半導體表面結構較弱,快速彈道電子與聲子碰撞時間較長(約幾10皮秒),而半導體本體內部的電子碰撞時間較短(約1皮秒),導致相對較慢的電子擴散現象。

湯朝暉表示,這項技術幫助科學家瞭解電子產品內積體電路的結構和性質,未來可用於發展超快電子傳動系統,提高電子設備的效能。

湯朝暉的貢獻在於提出彈道電子及界面閘門理論,解釋研究團隊發現的物理機制。他於102年冬天獲齊威爾邀請,一同解決「費解」的實驗結果,最終成功提出理論。

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