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NI透過PXI架構的測試系統,降低半導體ATE的成本

美通社/ 2014.08.05 00:00
台北2014年8月5日電 /美通社/ -- 美商國家儀器提供了最佳的解決方案,協助工程師和科學家克服世界上最艱鉅的工程挑戰,並於今天推出 NI

半導體測試系統 (Semiconductor Test System,簡稱 STS) 系列。基於PXI

架構的自動化測試系統,針對半導體生產測試環境的 PXI 模組,有助於降低 RF 和混合式訊號裝置的測試成本。相較於傳統的半導體自動化測試設備

(ATE),STS 先期使用者都證實了 STS

有助於降低生產成本、提高產能,而且還可以透過相同的硬體和軟體工具,同時執行特性測試與生產作業。這樣一來即可更快建立資料關聯並縮短上市時間。

「由於積體電路越變越複雜,所以可針對設計檢驗甚至是末期生產測試等應用提供最佳測試範圍、同時兼具成本效益的 ATE 也變得越來越重要」,Infineon

Technologies 車體傳動產品的資深設計與應用工程師 Dr.Hans-Peter Kreuter 解釋:「就混合式訊號測試而言,PXI 架構的 STS

效能遠勝過傳統的 ATE,能夠以相當低的成本提供最理想的測試範圍。」

不同於傳統 ATE 的封閉式架構,STS 具有開放式的模組化架構,可協助工程師運用先進的 PXI 儀器

。這對 RF 和混合式訊號測試而言尤其重要,因為傳統 ATE

的測試範圍通常無法滿足最新半導體技術的需求。STS 搭載TestStand 測試管理軟體和

LabVIEW

系統設計軟體,針對半導體生產環境提供了豐富的功能組合,包含可客制化的操作介面、分類機/針測機整合、裝置為主的程式設計和針腳-通道配置、標準測試資料格式報表製作、整合式多地點支援等等。有了這些功能,工程師即可迅速開發測試程式、加以除錯並完成佈署,縮短整體的上市時間。此外

STS 還配備了全封閉式的「零佔用空間」測試頭、標準銜接與連結機構,可立即整合至半導體生產測試單元。

「由於測試系統不停汰換,或者無法滿足新的測試需求,因此傳統的 ATE 系統往往伴隨著高額的測試工具替換成本,不過 STS 的開放式 PXI

架構卻可以讓我們保有原本的投資,並且以此為基礎持續擴充,不必淘汰任何設備」,Integrated Device Technology (IDT) 測試總監

Glen Peer 指出:「此外還有出色的彈性,有助於重新設定測試平台並加以擴充,以便因應不斷成長的效能需求。」

STS 系列提供三種不同的機型:T1、T2、T4,分別容納了 1、2、4 個 PXI 機箱。這些尺寸選項,再加上所有 STS

機型通用的軟體、儀控和互連機構,可協助工程師充分滿足不同的針腳和地點數量需求。此外,便於擴充的 STS

還可以佈署至特性測試甚至是生產環境,藉此優化成本效益、大幅簡化建立資料關聯的程序,進而縮短上市時間。

為了協助客戶順利達成目標,NI 提供豐富的教育訓練、產品與服務,同時還有全球 NI 工程專家和 NI 聯盟夥伴的強力支援。

如需深入了解 NI 半導體測試系統 (STS),請前往:www.ni.com/sts 。

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消息來源 美商國家儀器

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