愛德萬測試表示，現今系統單晶片高度整合數位、類比、高速與高功率等多種功能，推出全新測試解決方案，正是針對此發展潮流所開發。
愛德萬測試指出，推出浮動電源供應單元，可強化測試平台V93000對嵌入式電源元件進行高電壓大電流測試的能力。
愛德萬測試表示，相關方案可為測試平台在單一系統上供應電源與類比及數位通道，使平台可以提高嵌入式電源IC元件並行同測數。
愛德萬測試指出，浮動電源供應單元的量測範圍，不會受到供電範圍限制，操作人員可自由選取量測範圍，待測物也不會發生電壓或電流突波、電源切斷、電路閂鎖效應或元件受損等問題。