美日專利審查 明年起共通化

日本特許廳長官羽藤秀雄今天與來訪的美國專利商標局副局長蜜雪兒．李（Michelle Lee）簽署合作書。明年4月起，在美日申請專利的審查作業將共通化。

企業、大學或發明家等在美日想取得專利，在日本審查的結果，美國將接受，這樣可省去兩度審查的繁瑣作業。

日本特許廳估計3年約有5000件申請專利審查的案子，有很多是在美國設立研究開發據點的日商所提出的申請案。