愛德萬推太赫茲波光學取樣系統

愛德萬測試表示，推出最新太赫茲波光學取樣系統，可提供彈性架構，方便使用者自由配置太赫茲波源模組及偵測模組，可結合量測太赫茲波波段三種不同光譜區間的太赫茲波源模組。

愛德萬測試指出，頻率在0.1到10THz範圍內的電磁波太赫茲波，通過試樣後能產生吸收光譜，可供鑑別分析。太赫茲波光譜分析成為超音波和紅外線之外，針對內部結構和組成物質進行非破壞性分析的重要技術。

愛德萬測試表示，拜先進技術之賜，相關設備已能穩定產生並偵測太赫茲波，吸引業界對非破壞性分析及高速通訊應用的廣泛興趣，進一步發展包括製藥、生物技術、新材料研發等各種不同應用領域。

愛德萬測試指出，透過最新太赫茲波光學取樣系統，使用者可在平台上隨需配置，利用光纖引線將太赫茲波源及偵測模組連結到主機，不受限加裝模組，任意調整量測區。

在輔助裝置配置上，愛德萬測試表示，透過最新太赫茲波光學取樣系統，可在量測環境中加入取樣加熱系統、低溫系統、自動化取樣處理等相關輔助裝置，提升研究開發工作，開啟太赫茲波技術未來發展的新契機。