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愛德萬推新記憶IC測試方案

中央社/ 2014.02.16 00:00
(中央社記者鍾榮峰台北16日電)測試設備大廠愛德萬測試(Advantest)推出新一代記憶IC測試解決方案,因應行動裝置及伺服器需求,預計第2季開始出貨。

愛德萬測試表示,行動上網裝置與伺服器在資料處理量不斷激增下,記憶體晶片製造商需要具成本競爭力的測試解決方案,加快高速和高容量DDR4-SDRAM與LPDDR4-SDRAM等記憶體新品上市。

愛德萬測試表示,新款記憶IC測試解決方案,測試速度最高可達4.5 Gbps,對DDR4-SDRAM的並列同測能力,最高可達512個元件,可因應業者低成本大量測試需求。測試系統功能也有助提升產出率和產能,可降低資料傳輸延遲率。

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