影像感測測試愛德萬推系統

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12 年前

（中央社記者鍾榮峰台北2013年11月27日電）測試設備大廠愛德萬測試(Advantest)推出T2000 ISS IPE2影像處理系統，可因應高階CMOS影像感測元件測試需求。

在應用上，愛德萬測試表示，T2000 ISS IPE2系統，可加快影像處理時間，縮短智慧型手機、平板電腦、數位相機照相鏡頭所用高畫素CMOS影像感測元件測試時程。

在功能上，愛德萬測試表示，T2000平台測試模組搭載四核心中央處理器，提升影像處理引擎功能，同步測試元件可分別利用不同獨立引擎進行測試，能降低高畫素CMOS影像感測元件測試時間達46%。

愛德萬測試表示，相關產品已開始出貨給全球客戶。

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