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愛德萬推新一代SoC分類機

中央商情網/ 2013.11.24 00:00
(中央社記者鍾榮峰台北2013年11月24日電)測試設備大廠愛德萬測試(Advantest)新一代系統單晶片測試分類機問世,預計明年第1季開始交貨。

愛德萬測試表示,新一代系統單晶片元件測試分類機,具備溫控(Tri-Temp)技術開發的高產能主動式熱控目視調準功能,所有資料也採全新視覺化架構,使用者透過網路,可即時監控測試機台生產進度。

為協助客戶提高測試良率、加快測試週期時間,愛德萬測試指出,新一代分類機加入目視調準功能,定位精確度適合處理微細間距元件,以及具有頂部和底部接觸結構的半導體元件;相關精度調準功能有助縮短設定與校正時間。

愛德萬測試表示,新一代分類機可因應各種溫度測試需求,在攝氏零下10度環境下,分類機能夠連續14天不中斷運作,無需進行除霜,減少系統定時維護工作。

愛德萬測試指出,新一代分類機並行同測能力是前一代的8倍,每小時總測試產量最高可達8000個元件,並行同測能力最高可提升32倍,可因應多接腳元件測試需求。

愛德萬測試表示,新一代分類機預計明年(2014年)第1季開始交貨。

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