愛德萬測試宣佈，已為Marvell裝設並評估全新測試機台，同時結合愛德萬T2000增強型性能解決方案和M4841動態測試分類機，可針對包括基頻處理器、應用處理器、微處理器、微控制器、高度整合式電源管理IC(PMIC)等高產能半導體，實現最低終程測試成本。
愛德萬指出，T2000+M4841測試機台並列同測能力，可達到每次16個複雜系統單晶片元件；整合式測試機台可支援測試業界最廣泛的系統單晶片元件，使終程測試獲得最高同測效率。
其中，M4841動態測試分類機可支援包括球柵陣列(BGS)、晶片級封裝(CSP)及四方扁平封裝(QFP) 等複雜IC和封裝的高產能並列同測；可即時升級的溫控(Tri-Temp)能力，適合可攜式數位裝置和汽車電子設備等消費性應用元件高產能測試。
萬德萬表示，同測16個元件的測試機台現已進入量產，供應Marvell產品測試需求。