降測試成本 愛德萬布局方案
中央商情網/
13 年前
(中央社記者鍾榮峰台北2012年11月15日電)為降低微控制器和智慧卡晶片測試成本，測試設備大廠愛德萬測試(Advantest)積極布局整合性解決方案。
愛德萬測試表示，整合性大量並列同測 (IMS) 解決方案，採用通用腳位架構，只需單一系統即可支援大規模並行同測，可降低內建類比電路與內嵌快閃記憶體電路的微控制器的測試成本。
愛德萬測試指出，透過大量並行同測能力，測試設備供應商有機會在講究成本效益的微控制器 (MCU) 與智慧卡晶片領域中擴大市占率；而一體化IMS模組，可將效能電路板化繁為簡，達到與採用多套模組、以複雜效能電路板管理模組的相同成效。
愛德萬測試指出，接單低潮將在第2季落底，預期2013年4月起，接單量可恢復動能成長。
愛德萬測試預估，到2014年，營收規模要成長到2500億日圓，營業利益率要達到2成或2成以上，自動化測試設備(ATE)全球市占率要達到5成或5成以上。
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