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奈米薄膜標準技術論壇登場

中央社/ 2012.10.02 00:00
(中央社記者黃巧雯台北 2日電)經濟部標檢局今天舉行「奈米薄膜標準技術論壇」,邀請產官學界各領域專家,共同探討薄膜材料量測標準與檢測技術相關議題。

標檢局指出,近20年來薄膜技術與薄膜材料發展迅速,廣泛運用於光電、綠能、通訊、機械等高科技與新興產業,成為重要關鍵技術;隨著奈米科技不斷突破,朝「奈米化」研發的奈米薄膜更常扮演技術創新的要角。

標檢局說,今天與會專家學者分別針對散熱薄膜檢測、奈米薄膜機械性質量測、奈米薄膜材料孔洞大小與分布量測、奈米尺度薄膜材料檢測、奈米光學薄膜檢測以及奈米薄膜壓痕檢測規範等議題熱烈討論。

標檢局表示,未來奈米薄膜將必然成為主宰產業革命與升級的重要利器之一,而產品是否具有高附加價值,相關檢測技術及量測標準的完備優劣則為關鍵要素。

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