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慶祝2012年世界標準日 奈米薄膜標準技術論壇專家獻策

中央社/ 2012.10.02 00:00
慶祝2012年世界標準日 奈米薄膜標準技術論壇專家獻策

(中央社訊息服務20121002 11:54:05)近20年來薄膜技術與薄膜材料發展迅速,廣泛運用於光電、綠能、通訊、機械等高科技與新興產業,成為重要關鍵技術;而隨著奈米科技不斷突破,朝「奈米化」研發的奈米薄膜更常扮演技術創新的要角;在這些技術、產業的背後無一不需要完善的標準化活動支援,換言之,薄膜量測標準與技術是決定產品品質與附加價值的要素。有鑑於此,經濟部標準檢驗局特別配合慶祝2012年世界標準日(10月14日)活動於10月2日上午在該局舉辦一場「奈米薄膜標準技術論壇」,邀請產官學界各領域專家,共同探討薄膜材料量測標準與檢測技術相關議題,也彰顯政府對新興產業標準化的重視。

本次論壇與會的專家學者分別就:散熱薄膜之檢測、奈米薄膜機械性質量測、奈米薄膜材料孔洞大小與分布量測、奈米尺度薄膜材料檢測、奈米光學薄膜之檢測、以及奈米薄膜壓痕之檢測規範等議題展開熱烈的討論,對我國奈米薄膜量測標準與檢測技術發展之方向與應用,提供了非常寶貴的建議;預估未來,奈米薄膜將必然成為主宰產業革命與升級的重要利器之一,而產品是否具有高附加價值,相關檢測技術及量測標準的完備優劣必是關鍵要素。標準檢驗局局長陳介山在會中表示,薄膜科技被視為引領各項產業發展的一項重要技術,更因新型薄膜在奈米尺度內新特性和新功能的不斷發現,擴大了薄膜的應用範圍;也就是說薄膜已進化成奈米薄膜,越做越細微,性能越來越好,有些甚至兼具可撓與耐扭曲的特性,超出了以往大家的認知。為掌握新奈米材料的特性與功能,需有相對應的奈米量測技術以及量測儀器作為依據;此時,薄膜技術的檢測與標準化建立就更加重要,如此才能精確掌控產品品質與穩定度。

標準檢驗局表示,配合國家奈米科技及產業發展政策,建立具良好追溯性的奈米薄膜標準與計量技術,以確保我國各項奈米技術之研發與規格為國際所認同,一直都是該局重要的發展目標之一。具體研發重點如「薄膜結構參數量測標準及參考物質量測技術建立」、「薄膜表面特徵量測標準技術建立」及「奈米薄膜機電與化學特性量測標準技術建立」等。並積極建立相關量測參數的新擴建標準系統,進行量測追溯鏈的建立及量測技術研發。未來該局將強化與國際標準的接軌,並藉由與各界專家的交流,以求貼近產業的需求,進而提升國內量測水準,促進產業的競爭力,共同完善國內奈米產業發展之環境。

訊息來源:經濟部標準檢驗局

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http://www.cna.com.tw/postwrite/Detail/113293.aspx

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