(中央社訊息服務20121002 11:54:05)近20年來薄膜技術與薄膜材料發展迅速，廣泛運用於光電、綠能、通訊、機械等高科技與新興產業，成為重要關鍵技術；而隨著奈米科技不斷突破，朝「奈米化」研發的奈米薄膜更常扮演技術創新的要角；在這些技術、產業的背後無一不需要完善的標準化活動支援，換言之，薄膜量測標準與技術是決定產品品質與附加價值的要素。有鑑於此，經濟部標準檢驗局特別配合慶祝2012年世界標準日（10月14日）活動於10月2日上午在該局舉辦一場「奈米薄膜標準技術論壇」，邀請產官學界各領域專家，共同探討薄膜材料量測標準與檢測技術相關議題，也彰顯政府對新興產業標準化的重視。
本次論壇與會的專家學者分別就：散熱薄膜之檢測、奈米薄膜機械性質量測、奈米薄膜材料孔洞大小與分布量測、奈米尺度薄膜材料檢測、奈米光學薄膜之檢測、以及奈米薄膜壓痕之檢測規範等議題展開熱烈的討論，對我國奈米薄膜量測標準與檢測技術發展之方向與應用，提供了非常寶貴的建議；預估未來，奈米薄膜將必然成為主宰產業革命與升級的重要利器之一，而產品是否具有高附加價值，相關檢測技術及量測標準的完備優劣必是關鍵要素。標準檢驗局局長陳介山在會中表示，薄膜科技被視為引領各項產業發展的一項重要技術，更因新型薄膜在奈米尺度內新特性和新功能的不斷發現，擴大了薄膜的應用範圍；也就是說薄膜已進化成奈米薄膜，越做越細微，性能越來越好，有些甚至兼具可撓與耐扭曲的特性，超出了以往大家的認知。為掌握新奈米材料的特性與功能，需有相對應的奈米量測技術以及量測儀器作為依據；此時，薄膜技術的檢測與標準化建立就更加重要，如此才能精確掌控產品品質與穩定度。
標準檢驗局表示，配合國家奈米科技及產業發展政策，建立具良好追溯性的奈米薄膜標準與計量技術，以確保我國各項奈米技術之研發與規格為國際所認同，一直都是該局重要的發展目標之一。具體研發重點如「薄膜結構參數量測標準及參考物質量測技術建立」、「薄膜表面特徵量測標準技術建立」及「奈米薄膜機電與化學特性量測標準技術建立」等。並積極建立相關量測參數的新擴建標準系統，進行量測追溯鏈的建立及量測技術研發。未來該局將強化與國際標準的接軌，並藉由與各界專家的交流，以求貼近產業的需求，進而提升國內量測水準，促進產業的競爭力，共同完善國內奈米產業發展之環境。
訊息來源：經濟部標準檢驗局
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